
Wij zijn Exclusive Dealer
De LevelCheck LC 510 is ontworpen voor niveaubewaking van vaste stoffen in silo’s, containers, bunkers, brekers, schachten, enz.
| Algemene Specificaties | |
|---|---|
| Certificaat | SIL 2 volgens IEC 61508 ATEX: Optioneel tot Zone 20/21 |
| Fysieke Specificaties | |
| Behuizingsmateriaal | Roestvrij staal (1.4307) |
| Sensoroppervlak | Teflon (optioneel keramisch) |
| Beschermingsklasse | IP65 |
| Ontvlambaarheid | UL94 V0 |
| Montagetype | 35 mm DIN-rail |
| Omgevingscondities | |
| Omgevingstemperatuur | -20 °C…+60 °C |
| Procestemperatuur | -20 °C…+85 °C |
| Procesdruk | 6 bar (optioneel 30-60 bar) |
| Maximale bedrijfshoogte | <2000 m boven zeeniveau |
| Elektrische Specificaties | |
| Voeding | 24 V DC (18…30 V DC) |
| Stroomverbruik | Ca. 80 mA bij 24 V DC |
| Zendvermogen | 10 dBm |
| Interface en Communicatie | |
| Uitgang (schakelend) | 1x Relaiscontact (wisselcontact, potentiaalvrij) 1x Normaal open gereedheidscontact |
| Schakelspanning | 30 V AC of 30 V DC |
| Schakelstroom | Min. 10 μA, max. 2 A |
| Schakelvermogen | 30 VA of 30 W |
| Elektrische aansluiting | Steekbare schroefklemmen |
| Indicatoren | LED groen (werking) LED geel (schakeling) |
| Parameterinstellingen | |
| Instelbare parameter | Versterking, filter, hysterese, vertraging |
| Parameterinstelling | Direct op apparaat via knoppen |


De Mütec LC 510M zorgt voor nauwkeurige niveaumeting in de meest uitdagende omgevingen. Dankzij de unieke capacitieve meettechnologie levert hij consistente resultaten, ongeacht veranderende materiaaleigenschappen of extreme temperaturen. Optimaliseer processen en verzeker veiligheid met deze onderhoudsarme oplossing.
De LV 510M kan min/max-niveaus bewaken, een continue toevoer garanderen en overvulling voorkomen. Het instrument kan ook worden gebruikt om vastlopende transportbanden te detecteren, goederen te tellen, artikelen te positioneren of gevaarlijke gebieden af te dekken. Het apparaat is robuust, eenvoudig te installeren en wordt niet aangetast door vuil, stof of stoom.
